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Journée fiabilité
05
Juin

SERMA Technologies, en association avec Cap’tronic, organise plusieurs journées de sensibilisation à la fiabilisation d’un ensemble électronique :

– le mercredi 20 juin à Talence (33),

– le mardi 29 mai 2018 à Baillargues (34),

– le jeudi 12 avril à Gardanne (13).

L’objectif de ce séminaire est de sensibiliser à la fiabilisation des systèmes électroniques et d’appréhender les tâches à mener pour obtenir un produit fiable en fonction des contraintes appliquées.

Il s’adresse aux Responsables techniques ou de bureaux d’études, Ingénieurs Chefs de projet et Responsables fiabilité, disposant d’un niveau de technicien supérieur expérimenté ou d’ingénieur travaillant sur la qualité ou la fiabilité d’un produit, au niveau de sa fabrication ou de sa sélection.

Cette journée sera animée par Jean-Michel LASSERRE, Responsable du Pôle de compétence Fiabilité de SERMA Technologies.

PROGRAMME :

 

Introduction

Définitions de la fiabilité
Défaillance abrupte (catalectique) et défaut d’usure
Exemple de mécanismes de défaillance

 

Utilisation des mathématiques

Fonction taux de défaillance l(t)
Évolution du taux de défaillance dans le temps (courbe en baignoire)
MTBF, MTTF
Utilisation des lois statistiques et leur limitation :

  • Exponentielle
  • Weibull
  • Échantillonnage :
  • Ki²

 

Notre approche : « La fiabilisation par la technologie »

Définition du profil de vie du produit
Analyse de risques (technologies versus profil de vie)

  • Composants et technologies
  • Design
  • Industrialisation

Construction d’une filière d’évaluation ciblée

Validation des technologies : composants, brasures, etc.
Essais de robustesse : le HALT
Essais de durabilité : lois d’accélération (Arrhenius, Coffin Manson et Norris Landzberg, Hallberg Peck, etc.)
Procédés de fabrication

 

Positionnement du déverminage

Définition du déverminage
Le HASS, HASA, ESS
POS et SOS
Efficacité du déverminage

 

Évaluation de la fiabilité prévisionnelle

Méthodes théoriques (MIL-HDBK-217, IEC 62380, FIDES)

 

Questions/Réponses

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