30 Jun
Posted by Florie

JOURNEES TECHNOLOGIQUES SERMA

 21 et 22 septembre 2017 - Pessac

 

Nous avons le plaisir de vous inviter à la 4e édition des Journées Technologiques à Pessac (33), dans les locaux de SERMA TECHNOLOGIES.

L’objectif est d’échanger, de partager avec vos pairs autour des problématiques industrielles, sur des thèmes tels que la fiabilité des interconnexions et assemblages, les problématiques liées au sans plomb, la qualification des éléments participant à la fabrication des cartes électroniques, etc.

 

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► PROGRAMME 

Jeudi 21 septembre :

9h00
- Introduction SERMA : Synthèse Workshop 2016 et perspectives 2017
9h30 - Conception d’un ASIC : Les étapes clefs de la conception à la qualification | Christophe DUROUGE - ID MOS, Alexandre ROSENG - SERMA TECHNOLOGIES
Débat
► 11h00 - Pause
• 11h10 - Introduction à la fiabilité des produits mécatroniques | Anne COULON - VIBRATEC et Olivier BEAUMANN - SERMA TECHNOLOGIES
Débat
► 13h00 - Repas
14h30 - Cartes COTS : Processus de conception de carte COTS orienté IC et road map : Interface Concept
Débat
15h30 - Protection des cartes par vernis et pottings : les tendances du marché | Daniel KAMENETZKY - VON ROLL.
► 16h00 - Pause
16h10 - Techniques d’analyse de surface appliquées à l’analyse de défaillance | David PINCEAU - SERMA TECHNOLOGIES
Débat
17h30 - Fin de l’atelier et visite des locaux SERMA

 

Vendredi 22 Septembre :

• Accueil des participants entre 9h00 et 9h30
9h30 - Impact de la CEM sur la fiabilité | Philippe DUNAND - AEMC

Débat
10h00 - REX SERMA sur les analyses de défaillances des composants actifs et passifs | Béatrice MOREAU et Mariano LOPEZ - SERMA TECHNOLOGIES
Débat
► 11h30 - Pause
11h45 - Synthèse des journées. Actions possibles : groupe(s) de travail, études et recherches…
► 12h30 - Buffet déjeunatoire
14h00 - Rendez-vous personnalisés pour échanges techniques sur des problématiques spécifiques. Merci de prendre rendez-vous par mail ou lors de l’inscription.

 

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► CONTACTEZ-NOUS :
Pour obtenir des informations détaillées, nous faire part de questions et problématiques que vous souhaiteriez voir abordées.

Jean Michel LASSERRE - Responsable pôle de compétence fiabilité
This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it. | +33 (0)5 57 26 43 24

Anne-Marie PUYASTIER - Responsable Logistique des Journées Technologiques
This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it.  | +33 (0)5 57 26 09 52

 

09 Jun
Posted by Florie

 

Decapsulation of packaged devices is devoted to exposing the internal components of the package. It is a key technique for all reliability investigations of products. Functional decapsulation is used on many services performed by SERMA such as failure analyses, chip modifications, qualifications (radiation hardening, pull-shear test) and characterizations (electrical, construction analysis, …). The challenge in functional opening of a device is to keep physical and electrical integrities of the semiconductor die. Among this process, wire bonding is the main sensitive element.

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01 Jun
Posted by Florie

SERMA Technologies will be attending

the 15th symposium of the French Society of Microscopy (SFµ)

to be held July 4 – July 7, 2017 in Bordeaux, France.

 

Karine Rousseau, Senior Technical Expert, will be joining the event and will present two posters during this week:

“Optimized sample preparation for advanced physical-chemical characterization of a fuel cell”: the best preparation parameters to perform artefact-free advanced characterization of MEA (Membrane Electrode Assembly) are reviewed in this poster. Comparative preparation tests including dry polishing and ultramicrotomy are investigated. Structural and chemical analyses on two Proton Exchange Membrane (PEM) Fuel Cells are performed by optical microscopy, Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM) with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (X-EDS).

“Mixing microscopy techniques for detailed assessment of coating surface”: this poster focuses on two types of coating surface structure, which have very interesting tribological behaviours: Diamond-Like Carbon (DLC) and Titanium nitride (TiN). A comparison between three microscopy techniques (Atomic Force Microscopy, Scanning Electron Microscopy and Transmission Electron Microscopy) is sometimes necessary to qualify coating surface quality. However, in some cases, inconsistencies between these results are pointed and induce the use of other characterization techniques. It was the case of DLC coating: X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) was used to evaluate sp2/sp3 ratio of the carbon and then compare with Energy Electron Loss Spectroscopy (EELS).
 

Since 1989, this Congress aims to bring together a large community of scientists around the subject of microscopy and not only electron microscopy. Fifteen sessions cover applications and developments in life science, materials science, instrumentation and methods. The joint symposia and the parallel sessions in Materials and Biology provide access to the latest advances in the characterization of materials at different scales. http://sfmu-bordeaux2017.fr/