Expertise - Charakterisierung

Elektrische Expertise - Zuverlässigkeitstests und Charakterisierung der Halbleiterverfahren

Festlegen der Parameter sowie der Zuverlässigkeitsmodelle der Halbleiterverfahren angesichts der wichtigsten Fehlermechanismen, welchen sie innerhalb der integrierten Schaltkreise ausgesetzt sein können. Test an bestimmten Elementarstrukturen.

• Verbindungsprozess: Elektromigrationstest
• MOS-Transistoren: Test der Beständigkeit gegenüber
• Bipolare Transistoren: Beschleunigungstests.
• Dielektrische Elemente: Durchschlagfestigkeit, Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB).

Ausstattung:

System: Qualitau Inc. Modular Integrated reliability Analyser (MIRA)

Norm:

EIA / JEDEC, AEC-Q100